特許
J-GLOBAL ID：201803018545969477

照合方法、照合装置、照合プログラム

発明者：
青木 隆浩

青木 隆浩 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (1件)： 下田 憲次
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-186323
公開番号（公開出願番号）：特開2018-049569
出願日： 2016年09月23日
公開日（公表日）： 2018年03月29日
要約：
【課題】本発明は、特徴点の照合処理の効率を改善する。【解決手段】本発明は、m次元空間に投影された1以上の特徴点について、m次元空間を規定する座標軸の何れかを基準軸とし、基準軸上の座標値順に近傍探索を行う照合方法であり、m次元空間の各軸を基準軸とし、基準軸毎に、基準軸上の座標値順に整序された1以上の特徴点である特徴点群を取得し、特徴点群の特徴点を基準点とする基準点群と、特徴点群の特徴点を参照点とする参照点群とし、基準点群の各基準点につき、参照点群の整序順に基準点との基準軸上の距離が閾値未満となる参照点を探索し、探索時の基準点と参照点との比較回数をカウントし、閾値未満の参照点を検出後、閾値以上の参照点を検出した場合、当該基準点の比較回数を確定し、各基準点の比較回数を合計して基準軸毎の比較回数を取得し、比較回数が少ない基準軸を照合処理における基準軸とする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
m次元空間(mは2以上の自然数)に投影された1以上の特徴点について、前記m次元空間を規定する2以上の座標軸のうち何れかを基準軸として、前記基準軸上の座標値順に近傍探索を行う照合方法であって、 前記m次元空間を規定する2以上の座標軸の各々を基準軸とし、前記基準軸毎に、前記基準軸上の座標値順に整序された前記m次元空間の座標値を有する1以上の特徴点である特徴点群を取得するステップA1と、 前記基準軸毎の特徴点群について、前記特徴点群の前記1以上の特徴点を1以上の基準点とする基準点群と、前記特徴点群の前記1以上の特徴点を1以上の参照点とする参照点群とを取得するステップA2と、 前記基準軸毎に、前記基準点群の各基準点について、前記参照点群の整序方向順に、前記基準点との前記基準軸上での距離が近傍探索用の閾値未満となる参照点を探索するステップA3と、 前記基準軸毎に、前記探索において前記基準点と前記参照点との比較回数をカウントし、閾値未満となる参照点を検出した場合、前記近傍探索用の閾値以上となる参照点を検出したことに応じて、当該基準点についての比較回数を確定し、前記基準点群の各基準点について比較回数を合計することで、前記基準軸毎の比較回数を取得するステップA4と、 前記2以上の基準軸のうち、比較回数が少ない基準軸を、照合処理における近傍探索の基準軸として選択するステップA5と、 を含むことを特徴とする照合方法。
IPC (2件)：
G06T 7/00 ,  G06T 1/00
FI (3件)：
G06T7/00 300F ,  G06T1/00 500A ,  G06T7/00 510B
Fターム (39件)：
5B043AA01 ,  5B043AA04 ,  5B043AA09 ,  5B043BA03 ,  5B043EA02 ,  5B043EA04 ,  5B043EA06 ,  5B043EA11 ,  5B043EA12 ,  5B043EA13 ,  5B043FA07 ,  5B043GA02 ,  5B043HA01 ,  5B043HA05 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CD14 ,  5B057DA07 ,  5B057DA12 ,  5B057DA16 ,  5B057DC05 ,  5B057DC36 ,  5B057DC39 ,  5L096AA06 ,  5L096CA02 ,  5L096CA14 ,  5L096DA02 ,  5L096EA03 ,  5L096EA04 ,  5L096EA15 ,  5L096EA43 ,  5L096FA66 ,  5L096GA51 ,  5L096HA09 ,  5L096JA03 ,  5L096JA11 ,  5L096KA09 ,  5L096KA15
引用特許：
審査官引用 (3件)
引用文献：
審査官引用 (1件)

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