特許
J-GLOBAL ID:201803019072672966
2つの波長を合成する光コヒーレンストモグラフィーシステム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (8件):
田中 伸一郎
, 弟子丸 健
, ▲吉▼田 和彦
, 大塚 文昭
, 西島 孝喜
, 須田 洋之
, 上杉 浩
, 近藤 直樹
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2017-562299
公開番号(公開出願番号):特表2018-525046
出願日: 2016年05月31日
公開日(公表日): 2018年09月06日
要約:
複数の波長を合成する光コヒーレンストモグラフィー(OCT)システムが、概して説明されている。一例において、OCTシステムは、第1の波長を有する第1のビームを放射するように構成された第1の光源を含む。OCTシステムは、第2の波長を有する第2のビームを放射するように構成された第2の光源をさらに含む。OCTシステムは、干渉計をさらに含む。第1のビーム及び第2のビームは、干渉計に方向付けられるように構成される。干渉計は、参照通路と、干渉計試料通路とを含む。OCTシステムは、干渉計試料通路の出力から第1のビームを第1の試料通路に、及び第2のビームを第2の試料通路に分割するように構成された第1のビームスプリッタをさらに含む。OCTシステムは、第1のビーム及び第2のビームを共通の軸に合成するように構成された第2のビームスプリッタをさらに含む。【選択図】図1
請求項(抜粋):
光コヒーレンストモグラフィー(OCT)システムであって、
第1の波長を有する第1のビームを放射するように構成された第1の光源と、
第2の波長を有する第2のビームを放射するように構成された第2の光源と、
干渉計であって、前記第1のビーム及び前記第2のビームは、前記干渉計に方向付けられるように構成され、さらに前記干渉計は、
参照通路と、
干渉計試料通路と、を備える、干渉計と、
前記干渉計試料通路の出力から、
前記第1のビームを第1の試料通路へ、かつ
前記第2のビームを第2の試料通路へ、分割するように構成された第1のビームスプリッタと、
前記第1のビーム及び前記第2のビームを共通の軸に合成するように構成された第2のビームスプリッタと、を備える、光コヒーレンストモグラフィー(OCT)システム。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (22件):
2G059AA05
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059EE10
, 2G059EE13
, 2G059FF02
, 2G059GG01
, 2G059GG03
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 4C316AA01
, 4C316AA09
, 4C316AB02
, 4C316AB11
, 4C316FA09
, 4C316FY01
, 4C316FY08
, 4C316FZ02
, 4C316FZ03
引用特許:
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