特許
J-GLOBAL ID：201103076949561666
撮像装置及び撮像方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
阿部 琢磨
, 黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-082814
公開番号（公開出願番号）：特開2011-214969
出願日： 2010年03月31日
公開日（公表日）： 2011年10月27日
要約：
【課題】 複数の測定光を用いて被検査物の光干渉断層画像を撮る撮像装置に関して、使用者の利便性の観点から、測定光ごと(あるいは光干渉断層画像ごと)に制御性を良くすることが望まれる。【解決手段】 本発明に係る撮像装置は、複数の参照光と複数の戻り光とのそれぞれの光路長差の変更量を指示する指示手段(指示部12)を有する。また、本発明に係る撮像装置は、指示手段により指示された上記変更量に基づいて上記光路長差を変更する変更手段(変更部11)を有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光と、をそれぞれ合成した複数の合成光に基づく該被検査物の光干渉断層画像を撮る撮像装置であって、
前記複数の参照光と前記複数の戻り光とのそれぞれの光路長差の変更量を指示する指示手段と、
前記指示手段により指示された前記変更量に基づいて前記光路長差を変更する変更手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
IPC (3件)：
G01N 21/17
, A61B 3/10
, A61B 3/12
G01N21/17 620
, A61B3/10 R
, A61B3/12 E
2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059BB13
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059EE12
, 2G059FF02
, 2G059HH01
, 2G059JJ05
, 2G059JJ07
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 2G059LL01
, 2G059MM01
, 2G059PP04
