特許
J-GLOBAL ID:201803019584529936

分光分析

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 辻居 幸一 ,  熊倉 禎男 ,  弟子丸 健 ,  松下 満 ,  倉澤 伊知郎 ,  吉野 亮平
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-518358
特許番号:特許第6269983号
出願日: 2013年06月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】ある濃度を有する希釈剤中の物質を含む試料を識別又は検証するための分析器であって、 少なくとも2つの異なる波長を含む電磁放射線を少なくとも1つのビームで試料に放出するための電磁放射線源と、 前記試料によって影響を受けた前記放出電磁放射線からもたらされる被影響電磁放射線を検出し、かつ前記少なくとも2つの異なる波長で該検出された被影響放射線の強度を表す又は前記強度に関連した試料検出出力を与える試料検出器と、 それぞれの波長における濃度非依存試料係数を決定し、かつ該試料係数と訓練試料から決定される訓練係数とを用いて前記試料を識別又は検証するか又は他に特徴付けるためのプロセッサと、を含み、 前記それぞれの波長における濃度非依存試料係数は、 全ての波長で測定された前記試料及び希釈剤の強度により正規化された、 a)その波長での該検出された被影響放射線の強度を表す又は前記強度に関連した試料検出出力、及び b)訓練データセットから得られた希釈剤に対する検出された被影響放射線の強度を表す又は前記強度に関連した検出出力、に基づき決定される、ことを特徴とする分析器。
IPC (1件):
G01N 21/27 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01N 21/27 Z ,  G01N 21/27 B
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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