画像処理システム、処理方法及びプログラム

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：大塚康徳 , 高柳司郎 , 大塚康弘 , 木村秀二 , 下山治 , 永川行光
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-015935
公開番号（公開出願番号）：特開2013-153884
特許番号：特許第6226510号
出願日： 2012年01月27日
公開日（公表日）： 2013年08月15日
請求項（抜粋）：

【請求項1】被検眼の断層画像から網膜層の境界を検出する検出手段と、前記検出した網膜層の境界の各点ごとに、各点の間隔に基づいて前記検出した網膜層の境界の曲率を求める解析手段と、前記求めた各点ごとの曲率に基づいて、第1の統計値と第2の統計値とを演算する特徴量取得手段と、前記第1の統計値と前記第2の統計値とに対応する位置がプロットされる領域であって、被検眼が疾病である可能性を段階的に示す複数の領域から、前記対応する位置が属する領域を取得する取得手段と、前記対応する位置がプロットされた前記複数の領域を表示装置に表示する表示制御手段とを具備することを特徴とする画像処理システム。

IPC (2件)：

A61B 3/10 ( 200 6.01) , A61B 3/14 ( 200 6.01)

FI (2件)：

A61B 3/10 R , A61B 3/14 M

引用特許：

出願人引用 (6件)

光干渉断層装置、方法、およびシステム
公報種別：公表公報出願番号：特願2011-501911 出願人：ドヘニーアイインスティテュート
画像処理装置、画像処理方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-269186 出願人：キヤノン株式会社
画像撮影装置及び画像解析プログラム
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-243485 出願人：国立大学法人岐阜大学, タック株式会社

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審査官引用 (6件)

眼底観察装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2010-223125 出願人：株式会社ニデック
光干渉断層装置、方法、およびシステム
公報種別：公表公報出願番号：特願2011-501911 出願人：ドヘニーアイインスティテュート
画像処理装置、画像処理方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2008-269186 出願人：キヤノン株式会社

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引用文献：

出願人引用 (5件)

https://web.archive.org/web/20091227225217/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_01.html, 20091227
https://web.archive.org/web/20100102011843/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_04.html, 20100102
http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/SMIS_CHRT011.html

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審査官引用 (5件)

https://web.archive.org/web/20091227225217/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_01.html, 20091227
https://web.archive.org/web/20100102011843/http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/VHN_04.html, 20100102
http://www.gikosha.co.jp/SMIS/SMIS_CON/SMIS_CHRT011.html

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