特許
J-GLOBAL ID:201803020434576390

分光分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 成瀬 重雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-205655
公開番号(公開出願番号):特開2018-066664
出願日: 2016年10月20日
公開日(公表日): 2018年04月26日
要約:
【課題】微小体積の試料に対する分光分析を高感度で行うことが可能な分析装置を提供する。【解決手段】光導波路1の第1分岐部11と第2分岐部12とは、プローブ光源4から光導波路1に送り込まれたプローブ光を分離させ、かつ、その後に混合させる。第1分岐部11及び第2分岐部12のうちの少なくとも一方は、流路2との交差部7において、流路2の内部を横断している。励起光源3は、交差部7に励起光を照射する。受光部5は、第1及び第2分岐部11及び12を通過後に混合されたプローブ光を受光してその光強度を測定する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
光導波路と、流路と、励起光源と、プローブ光源と、受光部を備えており、 前記光導波路は、第1分岐部と第2分岐部とを備えており、 前記第1分岐部と第2分岐部とは、前記プローブ光源から前記光導波路に送り込まれたプローブ光を分離させ、かつ、その後に混合させる構成となっており、 前記第1分岐部及び前記第2分岐部のうちの少なくとも一方は、前記流路との交差部において、前記流路の内部を横断しており、 前記励起光源は、前記交差部に励起光を照射する構成となっており、 前記受光部は、前記第1及び第2分岐部を通過後に混合された前記プローブ光を受光してその光強度を測定する構成となっている 分光分析装置。
IPC (4件):
G01N 21/45 ,  G01N 21/41 ,  G01N 21/05 ,  G01N 37/00
FI (4件):
G01N21/45 A ,  G01N21/41 Z ,  G01N21/05 ,  G01N37/00 101
Fターム (26件):
2G057AA07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA05 ,  2G057BB01 ,  2G057BD04 ,  2G057BD06 ,  2G059AA02 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059DD12 ,  2G059EE05 ,  2G059EE09 ,  2G059EE12 ,  2G059FF03 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059GG04 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059MM17 ,  2G059NN02
引用特許:
審査官引用 (4件)
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