特許

J-GLOBAL ID：201803020481524357

異物検査装置

発明者： 川口 裕二
出願人/特許権者： 株式会社イシダ ,  日新電子工業株式会社
代理人 (3件)： 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  柴山 健一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-120850
公開番号（公開出願番号）：特開2017-223615
特許番号：特許第6285987号
出願日： 2016年06月17日
公開日（公表日）： 2017年12月21日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 被検査物を搬送する搬送部と、 X線の透過性を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、 磁界と金属との相互作用を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる金属を異物として検出する金属検出部と、 前記搬送部の少なくとも一部、前記X線検査部、及び前記金属検出部を内部に収容し、前記搬送部による前記被検査物の搬入口、及び前記搬送部による前記被検査物の搬出口を有する筐体と、を備え、 前記搬送部は、 前記搬送部による前記被検査物の搬送領域の上流端に配置された第1送りローラと、 前記搬送領域の下流端に配置された第2送りローラと、 前記第1送りローラ及び前記第2送りローラに架けられた無端ベルトと、 非磁性の材料で形成され、前記搬送領域において前記無端ベルトを支持する支持プレートと、 前記搬入口及び前記搬出口のうち前記X線検査部に近い前記搬入口又は前記搬出口において前記X線を遮蔽するX線遮蔽プレートと、を有する、異物検査装置。

IPC (3件)：

G01N 23/18 ( 201 8.01) ,  G01N 23/04 ( 201 8.01) ,  G01N 27/72 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G01N 23/18 ,  G01N 23/04 ,  G01N 27/72

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 異物検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2014-053808   出願人：日新電子工業株式会社
• 異物検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-112373   出願人：株式会社イシダ