特許
J-GLOBAL ID:201803021133854447

試料中の関心組織を高空間分解能で画像化するための顕微鏡

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-510752
特許番号:特許第6255389号
出願日: 2013年05月03日
請求項(抜粋):
【請求項1】 物質を含んでいる試料(2)中の関心組織を高空間分解能で画像化するための顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)であって、上記物質は第一分光特性を有している第一の状態及び第二分光特性を有している第二の状態を有しており、上記顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)は、 -互いに反対を向いている第一及び第二の面を有しており、且つ上記第一及び第二の面の側に第一及び第二の焦点面がそれぞれ存在しており、上記試料(2)は上記第一の面の側に置かれるためのものである、対物レンズ組み立て体(3)、 -上記対物レンズ組み立て体(3)を通って上記試料(2)に向けて転移光線(5b)を放つために、上記対物レンズ組み立て体(3)の上記第二の面の側に配置され、上記転移光線(5b)は強度及び位相の特性を有している、転移光源(4b)、 -上記転移光源(4b)及び上記対物レンズ組み立て体(3)の間に設置されている光線調節装置(10)であって、上記転移光線(5b)が、上記光線調節装置(10)と上記対物レンズ組み立て体(3)とを通過した後に、上記第二の状態にある上記物質を、上記第一の状態に移すように適応されている第一の強度を有している第一の強度の領域、及び、上記第一と第二の状態との間に上記物質を移さないように適応されている第二の領域を有している第二の強度の領域を少なくとも呈するように、空間的に上記転移光線(5b)を変化させるように構成されている上記光線調節装置(10)、 -上記第二の状態にある物質の一部から、光学測定信号を検出するように構成されているプローブ検出器(15)、 を含んでおり、 -さらに、位相差を発生させるように構成されている上記光線調節装置(10)、 -上記試料(2)に向けて照射光線(17;5b)を放つように配置されており、上記照射光線(17;5b)は強度及び位相の特性を有している、照射光源(16;4b)、並びに、 -上記照射光線(17;5b)が、上記試料(2)、上記対物レンズ組み立て体(3)及び上記光線調節装置(10)を少なくとも1回通過した後に、上記照射光線(17;5b)の強度を検出するように配置されている強度検出器(26) を含む位相差顕微鏡検査システムを含むことを特徴とする顕微鏡(1;1’;1’’;1’’’)。
IPC (2件):
G02B 21/00 ( 200 6.01) ,  G01N 21/64 ( 200 6.01)
FI (2件):
G02B 21/00 ,  G01N 21/64 F
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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