特許
J-GLOBAL ID:201003088678036677

波長又は偏光を感知する光学装置及びこの光学装置の使用

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 江崎 光史 ,  鍛冶澤 實 ,  今村 良太 ,  清田 栄章
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-509735
公開番号(公開出願番号):特表2010-529486
出願日: 2008年05月30日
公開日(公表日): 2010年08月26日
要約:
【課題】 2つの異なる光成分を投影空間内に投影する1つの端物レンズと1つの光学部品とを有する光学装置であって、前記投影空間内の一方の光成分の強度分布が、それ自体の干渉によってこの投影空間内の他方の光成分の強度分布と異なるように、前記光学部品が、透過して進行する前記一方の光成分の波面を歪ませる。【解決手段】 前記他方の光成分17の波面15が、前記一方の光成分22の波面5と同様に前記光学部品1を透過して進行し、この光学部品1は、前記他方の光成分17の波面15を歪ませず且つ/又はこの他方の光成分17に対して位相補正されているか又は位相補正可能である。
請求項(抜粋):
2つの異なる光成分を投影空間内に投影する1つの端物レンズと1つの光学部品とを有する光学装置であって、前記投影空間内の一方の光成分の強度分布が、それ自体の干渉によってこの投影空間内の他方の光成分の強度分布と異なるように、前記光学部品が、透過して進行する前記一方の光成分の波面を歪ませる光学装置において、 前記他方の光成分(17)の波面(15)が、前記一方の光成分(22)の波面(5)と同様に前記光学部品(1)を透過して進行し、この光学部品(1)は、前記他方の光成分(17)の波面(15)を歪ませず且つ/又はこの他方の光成分(17)に対して位相補正されているか又は位相補正可能であることを特徴とする光学装置。
IPC (2件):
G02B 21/00 ,  G01N 21/64
FI (3件):
G02B21/00 ,  G01N21/64 F ,  G01N21/64 E
Fターム (23件):
2G043AA03 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043GA01 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043HA06 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043JA04 ,  2G043JA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC14 ,  2H052AC26 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AD34 ,  2H052AF06
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 顕微鏡
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2002-249132   出願人:科学技術振興事業団, オリンパス光学工業株式会社, 株式会社日本ローパー
  • 超解像顕微鏡
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-238688   出願人:オリンパス株式会社, 国立大学法人東京工業大学
  • 走査型共焦点光学装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-140210   出願人:オリンパス光学工業株式会社

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