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J-GLOBAL ID:201902227751641284   整理番号:19A2598234

InGaNの表面-バルク電子状態評価

著者 (13件):
資料名:
巻: 80th  ページ: ROMBUNNO.18a-PB3-23  発行年: 2019年09月04日 
JST資料番号: Y0055B  ISSN: 2758-4704  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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背景 InxGa1-xN(0≦x≦1)の電子状態評価は、Al KαやMg Kαを単色光源とした軟X線光電子分光法(SX-PES)及び第一原理計算により積極的に行われてきた。しかしながら、InxGa1-xNの電子状態は、表面とバルクにて異なっ...【本文一部表示】
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分類 (1件):
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X線スペクトル一般 
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