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J-GLOBAL ID：201902236950032475   整理番号：19A0107897

高解像度走査型プローブ顕微鏡による炭素材料の評価

Characterization of carbon materials using high-resolution scanning probe microscopy

著者 (1件)： 清水智子 (慶應義塾大学理工学部)
資料名： 炭素
巻： 2018  号： 285  ページ： 204-209(J-STAGE)  発行年： 2018年 
JST資料番号： G0633A  ISSN： 0371-5345  CODEN： TASOA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 走査型プローブ顕微鏡(SPM)は,種々の材料の表面構造および特性の高い空間解像度での研究を可能にする実験法である。特別に設計し作製したプローブチップを用いて,ボールスティックモデルと同様の分子フレームワークを示す画像を得ることが可能である。また,高解像度SPMは,炭素系材料を研究するのに有用である。本論文で,SPMの基礎から始めて,グラフェンナノリボン中のドーパントの同定,フラーレン分子を観察するための三つの異なる原子間力顕微鏡(AFM)の比較,およびピーポッドカーボンナノチューブにおけるAFM画像とメタロフラーレンの位置との相関に関する最近の研究を説明した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *走査型プローブ顕微鏡 ,  高分解能 ,  *炭素材 ,  単層カーボンナノチューブ ,  フラーレン ,  包接化合物 ,  原子間力顕微鏡 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  グラフェン ,  ピーポッド ,  金属内包フラーレン
準シソーラス用語： メタロフラーレン

著者キーワード (10件)： 原子間力顕微鏡(AFM) ,  走査型トンネル顕微鏡(STM) ,  グラフェンナノリボン ,  フラーレン ,  カーボンナノチューブ ,  原子間力顕微鏡(AFM) ,  走査型トンネル顕微鏡(STM) ,  グラフェンナノリボン ,  フラーレン ,  カーボンナノチューブ

分類 (1件)： 炭素とその化合物  (YB02060D)

引用文献 (19件)：

• 1) G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber and E. Weibel, Appl. Phys. Lett. 40 (1982) 178-180.
• 2) G. Binnig, C. F. Quate and Ch. Gerber, Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 930-933.
• 3) L. Gross, F. Mohn, N. Moll, P. Liljeroth and G. Meyer, Science 325 (2009) 1110-1114.
• 4) F. J. Giessibl, Appl. Phys. Lett. 73 (1998) 3956-3958.
• 5) F. J. Giessibl, F. Pielmeier, T. Eguchi, T. An and Y. Hasegaw, Phys. Rev. B 84 (2011) 125409.

タイトルに関連する用語 (4件)： 高解像度 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  炭素材料 ,  評価