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J-GLOBAL ID：201902262918202877   整理番号：19A2745055

宇宙応用のための0.25μm SiGe技術の信頼性評価【JST・京大機械翻訳】

Reliability evaluation of a 0.25 μm SiGe technology for space applications

著者 (7件)： Robin C. (Thales Alenia Space, 26 Av. Jean Francois Champollion, 31100 Toulouse, France) ,  Rochette S. (Thales Alenia Space, 26 Av. Jean Francois Champollion, 31100 Toulouse, France) ,  Desgrez S. (Thales Alenia Space, 26 Av. Jean Francois Champollion, 31100 Toulouse, France) ,  Muraro J.L. (Thales Alenia Space, 26 Av. Jean Francois Champollion, 31100 Toulouse, France) ,  Langrez D. (Thales Alenia Space, 26 Av. Jean Francois Champollion, 31100 Toulouse, France) ,  Roux J.L. (CNES Toulouse, 18 Av. Edouard Belin, 31055 Toulouse, France) ,  Krstic M. (IHP GmbH Leibniz-Institut fuer innovative, Mikroelektronik Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder), Germany)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 100-101  ページ： Null  発行年： 2019年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,ヨーロッパの鋳造IHPからのSiGe SGB25技術の信頼性評価を提示した。本論文では,信頼性空間要件を考慮することを可能にする方法論を提案した。そのために,特定の試験車両を設計し,専用試験シーケンスを定義した。最終目標は,静的および動的電気制約の観点から,MMIC(Monolithic Microwave Integrated Circuit)安全動作領域を定義することである。雑音パラメータに及ぼす劣化モードの影響に重点を置いた。Copyright 2019 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *信頼性 ,  鋳造 ,  ヨーロッパ ,  *宇宙空間 ,  試験車
準シソーラス用語： 安全動作領域 ,  *信頼性評価 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： SiGe ,  信頼性 ,  RFIC ,  宇宙 ,  エンドユーザ ,  方法論

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (4件)： 宇宙 ,  応用 ,  SiGe ,  信頼性評価