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J-GLOBAL ID：201902264392333533   整理番号：19A0511985

亀裂を有する多層超伝導膜におけるJ_c測定のための非接触法の数値シミュレーション【JST・京大機械翻訳】

Numerical Simulation of Contactless Method for Measuring $j_¥mathrm{C}$ in Multiple-Layered Superconducting Film With Cracks

著者 (3件)： Takayama T. (Department of Informatics, Yamagata University, Yamagata, Japan) ,  Saitoh A. (Graduate School of Science and Engineering, Yamagata University, Yamagata, Japan) ,  Kamitani A. (Graduate School of Science and Engineering, Yamagata University, Yamagata, Japan)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 27  号： 4  ページ： ROMBUNNO.9000805.1-5  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 深さを考慮して亀裂を含む高温超伝導(HTS)膜における臨界電流密度の測定に対する走査永久磁石法の適用性を数値的に調べた。この目的のために,亀裂を有する多層HTS膜における遮蔽電流密度を解析するための数値コードを開発した。コードを用いて,走査永久磁石法を数値的に再現した。計算結果は,欠陥パラメータの導入により,亀裂周辺の擾乱領域を定量化できることを示した。さらに,面積は磁束密度の強さとともに増加することが分かった。一方,内部亀裂に対する欠陥パラメータは表面亀裂に対するそのパラメータにほぼ等しいので,内部と表面亀裂の間の区別は必ずしも明らかではない。しかし,走査永久磁石法は,偶数の内部亀裂を検出することを証明した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *シミュレーション ,  臨界電流密度 ,  パラメータ ,  磁束密度 ,  偶数 ,  走査 ,  永久磁石 ,  内部亀裂 ,  *多層 ,  *超伝導薄膜 ,  適応性 ,  *亀裂 ,  表面亀裂
準シソーラス用語： 遮蔽電流 ,  *数値シミュレーション ,  *非接触 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： システム同定  (IA02040O) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  信号理論  (ND02020G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 亀裂 ,  多層 ,  超伝導膜 ,  非接触 ,  数値シミュレーション