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J-GLOBAL ID：201902267820750018   整理番号：19A2744945

電気パルスによる電源の破壊解析【JST・京大機械翻訳】

Destruction analyses of power supplies due to electric pulse

著者 (7件)： Mejecaze G. (CEA, DAM, CEA - Gramat, F-46500 Gramat, France) ,  Mejecaze G. (Univ. Bordeaux, CNRS, Bordeaux INP, IMS UMR 5218, 351 cours de la liberation, F-33400 Talence, France) ,  Dubois T. (Univ. Bordeaux, CNRS, Bordeaux INP, IMS UMR 5218, 351 cours de la liberation, F-33400 Talence, France) ,  Curos L. (CEA, DAM, CEA - Gramat, F-46500 Gramat, France) ,  Curos L. (Univ. Bordeaux, CNRS, Bordeaux INP, IMS UMR 5218, 351 cours de la liberation, F-33400 Talence, France) ,  Puybaret F. (CEA, DAM, CEA - Gramat, F-46500 Gramat, France) ,  Vinassa J.-M. (Univ. Bordeaux, CNRS, Bordeaux INP, IMS UMR 5218, 351 cours de la liberation, F-33400 Talence, France)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 100-101  ページ： Null  発行年： 2019年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,フライバックスイッチモード電源の電気的挙動に及ぼす高振幅の電磁パルスの影響を示した。電磁パルスは,数百のアンペアの電気パルスを発生させることができるフランスにおける,電流注入プラットフォーム(PIC)を用いて注入される。注入は電源破壊までの一般モードと差動モードで行われる。これらの破壊試験は,一般的なモード注入が微分モード注入より破壊的であることを示すことを可能にした。さらに,ほとんどの場合,同じ成分が破壊されることを示した。成分分析を行い,それらの失敗に関するいくつかの仮説を作ることを可能にした。Copyright 2019 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 微分 ,  フランス共和国 ,  *電磁パルス ,  破壊試験
準シソーラス用語： 成分分析 ,  差動モード ,  電流注入 ,  *破壊解析 ,  *電気パルス , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (2件)： 電気パルス ,  破壊解析