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J-GLOBAL ID:201902275259238010   整理番号:19A1415331

パルス動作下の有機薄膜デバイスのジュール熱誘起破壊【JST・京大機械翻訳】

Joule heat-induced breakdown of organic thin-film devices under pulse operation
著者 (6件):
資料名:
巻: 121  号: 19  ページ: 195503-195503-6  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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有機薄膜素子の最大電流密度(J_max)に及ぼす基板の熱伝導率(k)と電気パルス幅(τ_パルス)の影響を調べた。また,数値計算を用いてパルス動作下の素子内部の温度上昇(ΔT)を推定し,J_maxの観測された差を解釈した。5μsの長いτ_パルスに対して,J_maxは低kプラスチック基板(約0.4kA/cm2)をもつ素子よりも高kサファイア基板(約1.2kA/cm2)をもつ素子に対して高かった。これは,高kサファイア基板が,このような長いτ_パルスに対してΔTを緩和するためのヒートシンクとして働くことができるからである。70nsの短いτ_パルスに対する高kサファイア基板による素子の動作は,ΔTの更なる緩和をもたらし,J_maxの約5kA/cm2への増加をもたらした。興味深いことに,このような短いτ_パルスに対して,高kサファイアと低kプラスチック基板を持つデバイスは,類似のJ_maxとΔT値を示し,その理由は,生成Joule熱がこの短時間内に低k有機層を横切って基板に移動するのが困難である理由である。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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発光素子  ,  酸化物薄膜 
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