フェロセニル-ウンデカンチオールSAM表面上のC<sub>60</sub>イオンの散乱による鉄-フラーレン錯体の合成

Motohashi Kenji; Motohashi Kenji; Tachikawa Tomoki; Uchida Takashi; Uchida Takashi; Kawamura Kensei

文献

J-GLOBAL ID：201902287360141713 整理番号：19A0098711

フェロセニル-ウンデカンチオールSAM表面上のC₆₀イオンの散乱による鉄-フラーレン錯体の合成

Synthesis of Iron-Fullerene Complexes by Scattering of C₆₀ Ions on Ferrocenyl-Undecanethiol SAM Surfaces

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資料名：
巻： 16 ページ： 127-131(J-STAGE) 発行年： 2018年
JST資料番号： U0016A ISSN： 1348-0391 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

本研究では,4.8keV-C₆₀^q+(q=1および2)イオンの入射下でフェロセン分子で被覆されたガラス表面上に散乱されたクラスタイオンの質量分析研究を行った。11-フェロセニル-1-ウンデカンチオール自己組織化単分子層表面(Fc-チオール-SAM)で覆われた一対の光学的フラットは,テーパ状平面チャネル(TPC)と呼ばれる形状で互いに面し,C₆₀イオンはより広い開口ギャップに入った。TPCの狭いギャップから出る各イオンの質量と電荷を,平行平板電荷分離法と組み合わせた飛行時間型質量分析を用いて成功裏に分析した。TPCがC₆₀イオンビーム軸に関して2°傾いたとき,質量分布ピークは~730uにシフトした。さらに,誘導結合プラズマ質量分析によりSi基板上に堆積した散乱粒子の元素分析を行った。非堆積基板と比較して,堆積基板に対して鉄原子の量の著しい増加が確認された。(翻訳著者抄録)

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著者キーワード (4件)： , , ,

分子化合物 , 炭素とその化合物 , 鉄の錯体 , 脂肪族チオール

引用文献 (23件)：

[1] X. Lu, L. Bao, T. Akasaka, and S. Nagase, Chem. Commun. 50, 14701 (2014). https://doi.org/10.1039/C4CC05164E
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[3] L. Feng, Z. Slanina, S. Sato, K. Yoza, T. Tsuchiya, N. Mizorogi, T. Akasaka, S. Nagase, N. Martin, and D. M. Guldi, Angew. Chem. Int. Ed. 50, 5909 (2011). https://doi.org/10.1002/anie.201100432
[4] K. Sawai, Y. Takano, M. Izquierdo, S. Filippone, N. Martin, Z. Slanina, N. Mizorogi, M. Waelchli, T. Tsuchiya, T. Akasaka, and S. Nagase, J. Am. Chem. Soc. 133, 17746 (2011). https://doi.org/10.1021/ja2062727
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フェロセニル-ウンデカンチオールSAM表面上のC60イオンの散乱による鉄-フラーレン錯体の合成

フェロセニル-ウンデカンチオールSAM表面上のC₆₀イオンの散乱による鉄-フラーレン錯体の合成