吸収線量測定システムおよび測定装置および方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-022502
公開番号（公開出願番号）：特開2015-148554
特許番号：特許第6512623号
出願日： 2014年02月07日
公開日（公表日）： 2015年08月20日
請求項（抜粋）：

【請求項1】高エネルギーX線またはγ線による吸収線量を測定する吸収線量測定システムであって、コイルと、このコイルに接続されたコンデンサと、を含む共振回路を有する測定装置と、前記測定装置の共振周波数を計測することで、前記測定装置のコンデンサ容量を計測する計測装置と、前記測定装置のコンデンサの容量の変化に基づいて、高エネルギーX線またはγ線による吸収線量を算出する吸収線量算出装置と、を有し、前記コンデンサは、誘電体としてチタン酸バリウムを含み、0を超え100Gy以下の高エネルギーX線またはγ線の照射によって結晶構造が変化して容量が減少し、加熱によって結晶構造が回復して容量が回復する、吸収線量測定システム。

IPC (1件)：

G01T 1/29 ( 200 6.01)

FI (1件)：

G01T 1/29 B

引用特許：

審査官引用 (7件)

基体データ管理システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-318532 出願人：株式会社フィルテック
容量式入射センサ
公報種別：公開公報出願番号：特願2012-195705 出願人：フリースケールセミコンダクターインコーポレイテッド
特公昭47-015279

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引用文献：

審査官引用 (2件)

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