特許
J-GLOBAL ID:201903014405851117
磁心部材の劣化診断装置、磁心部材の劣化診断方法、電気機器
発明者:
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
特許業務法人東京国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-012677
公開番号(公開出願番号):特開2017-135213
特許番号:特許第6595356号
出願日: 2016年01月26日
公開日(公表日): 2017年08月03日
請求項(抜粋):
【請求項1】 磁心部材を囲むサーチコイル部に特定の交流電圧を特定の周波数で付与する発振部と、
前記特定の交流電圧の付与によって前記サーチコイル部に流れる電流に基づいて、前記特定の周波数に対応した検出情報を取得する取得部と、
初期状態の磁心部材に対応する検出情報に基づいて判定情報が設定され、この判定情報を記憶する記憶部と、
前記初期状態から経年使用した磁心部材に対応する検出情報と前記判定情報とに基づいて、その劣化度を診断する診断部と、
を備えることを特徴とする磁心部材の劣化診断装置。
IPC (2件):
H01F 41/00 ( 200 6.01)
, H01F 27/00 ( 200 6.01)
FI (2件):
H01F 41/00 D
, H01F 27/00 H
引用特許: