特許
J-GLOBAL ID：201903015568834577
電子部品搬送装置および電子部品検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
増田 達哉
, 朝比 一夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-028436
公開番号（公開出願番号）：特開2019-144104
出願日： 2018年02月21日
公開日（公表日）： 2019年08月29日
要約：
【課題】電子部品の有無の検出を継続して安定かつ正確に行なうことができる電子部品搬送装置および電子部品検査装置を提供すること。【解決手段】電子部品を搬送する搬送部と、前記電子部品が載置される電子部品載置部と、前記電子部品載置部上の前記電子部品の有無を検出する検出部と、前記検出部の検出結果の正確性を判断する判断部と、を備えることを特徴とする電子部品搬送装置。また、この電子部品搬送装置では、前記判断部は、前記検出部による前記電子部品の有無の検出を継続して得られる工程能力指数に基づいて、前記正確性を判断するのが好ましい。【選択図】図9
請求項（抜粋）：
電子部品を搬送する搬送部と、
前記電子部品が載置される電子部品載置部と、
前記電子部品載置部上の前記電子部品の有無を検出する検出部と、
前記検出部の検出結果の正確性を判断する判断部と、を備えることを特徴とする電子部品搬送装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
2G003AA07
, 2G003AG11
, 2G003AG14
, 2G003AH01
, 2G003AH07
