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J-GLOBAL ID:202002212037672338   整理番号:20A0609390

Naフラックス成長後のLiを用いたサファイアの選択溶解による1.5インチ自立GaN基板の作製【JST・京大機械翻訳】

Fabrication of a 1.5-inch freestanding GaN substrate by selective dissolution of sapphire using Li after the Na-flux growth
著者 (6件):
資料名:
巻: 533  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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GaN結晶に誘起される熱応力の低減は,大直径GaN結晶の作製にとって重要である。Naフラックス法では,熱応力は成長後の成長温度でのサファイア溶解により除去される。この方法により自立GaN基板の作製に成功した。しかし,サファイアを溶解するための溶媒として用いたLiによるフラックスもGaNを溶解できる。本研究では,窒素量の増加が,サファイアの溶解を妨害することなく,Li添加フラックス中のGaN溶解を抑制できることを実証した。これはサファイアとGaNが異なる溶解機構を持つことを意味する。異なる機構を利用することにより,サファイアを選択的に溶解し,1.5インチ自立GaN基板を作製することに成功した。二次イオン質量分析(SIMS)により,Liが結晶中に組み込まれていることを明らかにした。Liの分布は,それがサファイア溶解の間に結晶に含まれることを示した。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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半導体薄膜 

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