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J-GLOBAL ID:202002213639967317   整理番号:20A1268127

両極性を低減し静電完全性を向上させたSOI Schottky障壁ナノワイヤMOSFET【JST・京大機械翻訳】

SOI Schottky Barrier Nanowire MOSFET with Reduced Ambipolarity and Enhanced Electrostatic Integrity
著者 (4件):
資料名:
巻: 49  号:ページ: 4450-4456  発行年: 2020年 
JST資料番号: D0277B  ISSN: 0361-5235  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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提案したシリコン-オン-絶縁体Schottky障壁(SOI-SB)ナノワイヤ金属-オキシド-半導体電界効果トランジスタ(NW-MOSFET)は,そのアナログ/ラジオ周波数(RF)性能をさらに改善するために広く研究されている。提案した素子は,OFF状態電流において,静電制御を効果的に改善し,両極性効果を低減することを示した。提案した素子のシミュレーションを行い,チャネル長22nm,半径5nmの誘電体ポケットSchottky障壁NW-MOSFETと比較した。SOI-SB NW-MOSFETは,I_OFF電流,I_ON/I_OFF比,サブ閾値勾配,初期電圧,トランス伝導発生因子,および固有利得に関して,改善された性能を示した。Copyright The Minerals, Metals & Materials Society 2020 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
ダイオード  ,  半導体-金属接触 

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