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J-GLOBAL ID：202002214007948489   整理番号：20A1087873

原子間力顕微鏡(AFM)で細胞をみる

Atomic Force Microscopy of the Cell

著者 (2件)： 臼倉英治 (名古屋大 未来材料・システム研) ,  臼倉治郎 (名古屋大 未来材料・システム研)
資料名： 顕微鏡  (Microscopy)
巻： 55  号： 1  ページ： 31-36  発行年： 2020年04月30日 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 1349-0958  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 原子間力顕微鏡(AFM)は探針で試料表面を走査することにより...

シソーラス用語： *原子間力顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： *細胞構成体 ,...

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分類 (1件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

引用文献 (22件)：

• 1) Binnig, G., Quate, C.F. and Gerber Ch.: Phys. Rev. Lett., 56, 930-933 (1986)
• 2) Binning, G., et al.: Phys. Rev. Lett., 49, 57-61 (1982)
• 3) Kodera, N., et al.: Nature, 468, 72-77 (2010)
• 4) Ando, T.: Current Opinion Struct. Biol., 28, 63-68 (2014)
• 5) Uchihashi, T., et al.: Ultramicroscopy, 160, 182-196 (2016)

タイトルに関連する用語 (3件)： 原子間力顕微鏡 ,  AFM ,  細胞