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J-GLOBAL ID：202002218842368978   整理番号：20A0073401

ナノマテリアル開発のための超顕微鏡解析共用拠点(九州大学)

Kyushu University Ultramicroscopy Platform for Nanomaterial Developing

著者 (9件)： 松村晶 (九州大学工学研究院) ,  村上恭和 (九州大学工学研究院) ,  波多聰 (九州大学総合理工学研究院) ,  安田和弘 (九州大学工学研究院) ,  工藤昌輝 (九州大学超顕微解析研究センター) ,  福永裕美 (九州大学超顕微解析研究センター) ,  阿内三成 (九州大学超顕微解析研究センター) ,  鳥山誉亮 (九州大学超顕微解析研究センター) ,  前野宏志 (九州大学超顕微解析研究センター)
資料名： まてりあ  (Materia Japan)
巻： 58  号： 12  ページ： 746-753(J-STAGE)  発行年： 2019年 
JST資料番号： F0163A  ISSN： 1340-2625  CODEN： MTERE2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・九州大学微細構造解析プラットフォーム事業は超顕微鏡解説研究センターで実施しており,多様な物質・材料のナノ構造解析・状態解析研究の計画から実施,データ解析に至るまでの研究支援を実施。
・本稿では,特徴的な装置,実績の一部を紹介。
・共用利用している電子顕微鏡として,HVEM,収差補正TEM-STEM,ホログラフィーTEM,分析TEM-STEM,TEM,分析SEM,FIB-SEMについて概説し,Si単結晶,Auナノロッド,ウラン鉱石,グラフェン膜などの観察例を紹介。
・鉛フリーはんだのCu₆Sn₅金属間化合物相の原子位置の決定,新たな高効率アンモニア合成触媒の開発の事例を紹介。

シソーラス用語： ナノ材料 ,  ナノテクノロジー ,  大学 ,  共同利用 ,  研究開発 ,  研究施設 ,  産学協同 ,  行政機関 ,  *微細構造 ,  *電子顕微鏡 ,  高圧電子顕微鏡 ,  透過型電子顕微鏡 ,  透過型走査電子顕微鏡 ,  ホログラフィー ,  走査電子顕微鏡 ,  ナノロッド ,  金属間化合物 ,  触媒 ,  FIB-SEM
準シソーラス用語： ナノマテリアル ,  九州大学 ,  微細構造解析 ,  *ナノテクノロジープラットフォーム ,  HVEM【顕微鏡】 ,  TEM【顕微鏡】 ,  STEM【顕微鏡】

著者キーワード (10件)： high voltage electron microscopy ,  transition edge sensor microcalorimetry ,  aberration corrected scanning transmission electron microscopy ,  X-ray energy dispersive spectroscopy ,  electron energy loss spectroscopy ,  nonlocal principal component analysis ,  nanoparticle ,  catalyst ,  boron-doped diamond ,  intermetallic compound

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  研究開発  (AA03000V)

引用文献 (20件)：

• (1) http://www.hvem.kyushu-u.ac.jp/index.html
• (2) http://nanoplat.hvem.kyushu-u.ac.jp
• (3) http://www.hvem.kyushu-u.ac.jp/forum.html
• (4) https://www9.hitachi.co.jp/atomicscale_pf/
• (5) 松村 晶,東田賢二:ふぇらむ,13(2008), 487-493.

タイトルに関連する用語 (7件)： ナノマテリアル ,  開発 ,  顕微鏡 ,  解析 ,  共用 ,  拠点 ,  九州大学