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J-GLOBAL ID:202002220044171062   整理番号:20A1038235

パルスAミューオンビームからの陽電子/電子に対するシリコンストリップ検出器の性能評価【JST・京大機械翻訳】

Performance evaluation of a silicon strip detector for positrons/electrons from a pulsed a muon beam
著者 (31件):
資料名:
巻: 15  号:ページ: P04027  発行年: 2020年 
JST資料番号: W5562A  ISSN: 1748-0221  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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日本陽子加速器研究複合体(J-PARC)において,高強度パルスミューオンビームが利用可能になっている。この高強度μ粒子ビームを用いて基礎物理を研究するための多くの実験を提案した。μ粒子の磁気モーメント異常(g-2)とμ粒子の電気双極子モーメント(EDM)を測定する実験はこれらの実験の一つであり,ミューオン崩壊からの陽電子に対するトラッキング検出器を必要とする。検出器において,高速度の陽電子を許容するために微細なセグメンテーションが必要である。時間分解能はミューオン異常スピン歳差周期よりもはるかに良い必要があり,一方,フロントエンドエレクトロニクスのバッファ深さは加速ミューオン寿命よりもはるかに長い必要がある。この検出器の要求は,J-PARCにおけるミュニウム超微細構造間隔の測定と東北大学における陽子電荷半径を測定するもう一つの実験の必要条件を満たしている。著者らは,190μmピッチ,200MHzのサンプリング速度と8192のバッファメモリ深さを有するフロントエンドエレクトロニクス,およびJ-PARCミューg-2/EDM実験のためのDAQ-Middlewareに基づくデータ収集システムを有する片側シリコンストリップセンサを開発した。このセンサとフロントエンドエレクトロニクスからなる検出器モジュールを製作した。製作した検出器モジュールの性能を実験室で評価し,東北大学で陽電子ビームを用いてビーム試験を行った。この検出器は,時間歩行を除いて実験のすべての要求を満たすことを確認した。これは,フロントエンドエレクトロニクスの次のバージョンによって解決される。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (4件):
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素粒子・核物理実験技術一般  ,  その他の素粒子・核実験用粒子発生装置  ,  超伝導磁石  ,  電子ビーム,イオンビーム 

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