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J-GLOBAL ID：202002222259048092   整理番号：20A0446865

リチウムイオン電池の等価回路モデル解析による劣化箇所推定に関する研究

著者 (7件)： 三宅太文 (早稲田大) ,  鈴木智幸 (矢崎総業) ,  船橋賢 (早稲田大) ,  亀崎允啓 (早稲田大) ,  荘田隆博 (矢崎総業) ,  石居真 (矢崎総業) ,  菅野重樹 (早稲田大)
資料名： 計測自動制御学会システムインテグレーション部門講演会(CD-ROM)  (SICE SI (CD-ROM))
巻： 20th  ページ： ROMBUNNO.3B3-03  発行年： 2019年12月12日 
JST資料番号： F1751A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *リチウムイオン電池 ,  モデル ,  *劣化 ,  故障点標定 ,  *Bayes推定 ,  電気自動車 ,  状態推定 ,  実験 ,  RC回路 ,  並列接続 ,  評価実験
準シソーラス用語： 等価回路モデル ,  並列回路

分類 (2件)： 二次電池  (YB04030K) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (6件)： リチウムイオン電池 ,  等価回路モデル ,  解析 ,  箇所 ,  推定 ,  研究