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J-GLOBAL ID：202002225660301303   整理番号：20A2080933

磁気閉回路を用いた残留磁化を有するバルク磁石の硬X線光電子分光計測技術の開発

Development of Measurement Technique for Bulk Magnet with Residual Magnetization using Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy

著者 (10件)： 保井晃 (高輝度光科学研究セ) ,  保井晃 (物質・材料研究機構) ,  池永英司 (高輝度光科学研究セ) ,  上野若菜 (高輝度光科学研究セ) ,  上野若菜 (物質・材料研究機構) ,  辻成希 (高輝度光科学研究セ) ,  小谷佳範 (高輝度光科学研究セ) ,  広沢哲 (物質・材料研究機構) ,  中村哲也 (高輝度光科学研究セ) ,  中村哲也 (物質・材料研究機構)
資料名： SPring-8/SACLA利用研究成果集(Web)  (SPring-8/SACLA Research Report (Web))
巻： 8  号： 2  ページ： WEB ONLY  発行年： 2020年08月21日 
JST資料番号： U1844A  ISSN： 2187-6886  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 硬X線光電子分光(HAXPES)を用いて,1T以上の残留磁化を有する着磁済みNd-Fe-B焼結磁石の破断面からの光電子信号の取得に成功した。バルク強磁性体の光電子計測は,残留磁化が発する漏洩磁場により光電子の飛行軌道が偏向を受け計測自体が困難であることから,積極的に行われてこなかった。我々はリング型の純鉄ヨークを用いることにより,磁石試料からの漏洩磁場を大幅に抑制した。本研究で得られた計測技術はHAXPES計測における対象試料を拡大する。特に,HAXPESスペクトルの磁気円二色性(MCD-HAXPES)を利用した研究の利用拡大に寄与し,スピントロニクス材料の埋もれた界面の磁化状態解析への適用など,幅広い波及効果を生むことが期待される。(著者抄録)

シソーラス用語： 磁気回路 ,  *X線光電子分光法 ,  *残留磁化 ,  永久磁石 ,  磁化 ,  *強磁性体 ,  *磁気円二色性 ,  *鉄合金 ,  ホウ素含有合金 ,  ネオジム含有合金
準シソーラス用語： HAXPES ,  *硬X線光電子分光 ,  磁気閉回路 ,  焼結磁石 ,  漏洩磁場

分類 (2件)： 金属結晶の磁性  (BM06040T) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

引用文献 (20件)：

• S. Hüfner, Photoelectron Spectroscopy, Springer, Berlin-Hidelberg, 1995.
• K. Nomura et al., Appl. Phys. Lett. 92, 202117 (2008).
• J. C. Woicik, Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) (Springer International Publishing, Cham, 2016).
• Y. Takata et al., Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 547, 50 (2005).
• E. Ikenaga et al., J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 190, 180 (2013).

タイトルに関連する用語 (8件)： 磁気 ,  閉回路 ,  残留磁化 ,  バルク ,  磁石 ,  硬X線光電子分光 ,  計測 ,  開発