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J-GLOBAL ID:202002226028946312   整理番号:20A1395305

光励起多探針計測を用いた単層WSe2/MoSe2面内ヘテロ構造の光応答評価

Photoresponse observation of monolayer WSe2/MoSe2 in-plane heterostructure by a laser-combined multiprobe measurement
著者 (10件):
資料名:
巻: 2019  ページ: 1Da01R(J-STAGE)  発行年: 2019年 
JST資料番号: U1883A  ISSN: 2434-8589  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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MoSe2等の遷移金属ダイカルコゲナイド単層半導体は,二次元光デバイス材料として注目される。発表者らは,世界で初めてフェムト秒パルスレーザーシステムと多探針STM装置を組み合わせることに成功し,SiO2基板上の単層WSe2/MoSe2面内ヘテロ構造のバンド構造評価と光キャリアダイナミクス計測を行った。任意の位置へ探針接触と光照射を可能にする本手法は,今後の二次元デバイス開発において重要となる。(著者抄録)
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分類 (1件):
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半導体薄膜 

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