Lederer M. について
Christian Doppler Laboratory for Lifetime and Reliability of Interfaces in Complex Multi-Material Electronics, Institute of Chemical Technologies and Analytics, Vienna Universtity of Technology, Getreidemarkt 9/164 1060 Vienna, Austria について
Kotas A. Betzwar について
Christian Doppler Laboratory for Lifetime and Reliability of Interfaces in Complex Multi-Material Electronics, Institute of Chemical Technologies and Analytics, Vienna Universtity of Technology, Getreidemarkt 9/164 1060 Vienna, Austria について
Khatibi G. について
Christian Doppler Laboratory for Lifetime and Reliability of Interfaces in Complex Multi-Material Electronics, Institute of Chemical Technologies and Analytics, Vienna Universtity of Technology, Getreidemarkt 9/164 1060 Vienna, Austria について
Microelectronics Reliability について
予測技法 について
亀裂 について
はんだ付 について
帯板 について
温度依存性 について
はんだ について
疲れ強さ について
歪速度 について
亀裂発生 について
寿命評価 について
亀裂長さ について
FEMモデル について
荷重条件 について
亀裂伝搬速度 について
はんだ継手 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
大面積 について
はんだ接合 について
寿命評価 について
予測法 について