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J-GLOBAL ID:202002232206453509   整理番号:20A0792719

低温無圧力でのミクロンスケール焼結Ag接合によるENEPIG基板上のロバスト結合と熱安定Ag-Au接合【JST・京大機械翻訳】

Robust bonding and thermal-stable Ag-Au joint on ENEPIG substrate by micron-scale sinter Ag joining in low temperature pressure-less
著者 (12件):
資料名:
巻: 828  ページ: Null  発行年: 2020年 
JST資料番号: D0083A  ISSN: 0925-8388  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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Au仕上げ基板上のロバスト接合と熱安定焼結Ag接合を初めてSiCパワーモジュールに使用するために達成した。異なる溶媒およびAg充填剤を含む5種類のAgペーストおよび4種類のAuめっきプロセス(ENIG,ENIGEG,ENEPIGおよびENEPIGEG)を用いて,Ag-Au継手の初期せん断強度を最適化した。ここでは,ENは無電解Niめっきを意味し,EPは無電解純パラジウムめっき,IGは浸漬金めっきプロセスを意味し,EGは無電解金めっきのプロセスである。マイクロスケールのAgフレークペーストは,Agナノ粒子のインスーツ形成により33.9MPaで最良のダイせん断強さを示し,空気中の圧力なしで250°Cの焼結温度で達成された。Electron後方散乱回折(EBSD)分析の使用により,ENEPIGめっきプロセスは,より大きなAu(111)結晶粒配向とより大きな結晶粒サイズを有するAu表面を示し,両方ともAgペーストとの結合の利点を示した。ENEPIG上の熱安定焼結Ag接合を,250°C,1000hまでの時効により評価した。剪断強度は,1000時間後に36.5MPaまでわずかに増加した。高温時効中の強固な結合と熱安定性の機構を,走査型Electron顕微鏡(SEM),エネルギー分散X線分光法(EDS),透過型Electron顕微鏡(TEM)およびX線回折(XRD)により系統的に分析した。これらは,焼結および時効中のAu層へのNi拡散を妨げる,大きなAu粒径,ENEPIGの好ましい表面条件およびPd障壁層に起因した。Copyright 2020 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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