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J-GLOBAL ID：202002246789100130   整理番号：20A1909016

陽電子の消滅と欠陥への捕獲

Positron annihilation and trapping to defects

著者 (2件)： 薮内敦 (京大 複合原子力科研) ,  藤浪真紀 (千葉大 大学院工学研究院)
資料名： 陽電子科学  (日本陽電子科学会会報)
号： 15  ページ： 3-9  発行年： 2020年09月01日 
JST資料番号： F1636A  ISSN： 2188-0107  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 陽電子は金属や半導体などの結晶材料中の格子欠陥の非破壊的高感度プローブとして半世紀にわたって広く使用されている。陽電子消滅の特性と欠陥へのトラッピングは,反応速度に基づくいわゆる”トラッピングモデル”によってよく記述される。本稿では,陽電子消滅分光法を用いた格子欠陥研究の基礎となるトラッピングモデルを解説した。さらに,トラッピングモデルの使用例として,陽電子寿命のその場高温測定による空孔形成エネルギーの導出を示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *空格子点 ,  モデル ,  *陽電子消滅 ,  チタン合金 ,  アルミニウム含有合金 ,  金属間化合物 ,  *陽電子消滅分光法
準シソーラス用語： *トラッピングモデル ,  陽電子捕獲

分類 (2件)： 陽電子消滅  (BK16052L) ,  格子欠陥の観察・実験技術  (BK12020U)

引用文献 (40件)：

• A. Vehanen, P. Hautojärvi, J. Johansson, J. Yli-Kauppila, P. Moser: Phys. Rev. B 25 (1982) 762.
• 白井泰治:軽金属 56(2006)629.
• S. Dannefaer, P. Mascher, D. Kerr: Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 2195.
• 斎藤晴雄:陽電子科学2(2014)21.
• 水野正隆:陽電子科学4(2015)23.

タイトルに関連する用語 (3件)： 陽電子 ,  欠陥 ,  捕獲