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J-GLOBAL ID：202002255455596834   整理番号：20A2501608

マルチレベルRRAMベース推論エンジンにおける2段階書込み検証スキームと読取雑音の影響【JST・京大機械翻訳】

Two-step write-verify scheme and impact of the read noise in multilevel RRAM-based inference engine

著者 (3件)： Shim Wonbo (Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, United States of America) ,  Seo Jae-sun (School of Electrical, Computer and Energy Engineering, Arizona State University, Tempe, AZ, United States of America) ,  Yu Shimeng (Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA, United States of America)
資料名： Semiconductor Science and Technology  (Semiconductor Science and Technology)
巻： 35  号： 11  ページ： 115026 (7pp)  発行年： 2020年 
JST資料番号： E0503B  ISSN： 0268-1242  CODEN： SSTEET  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 正確なセルコンダクタンス調整は,マルチレベル抵抗ランダムアクセスメモリ(RRAM)ベースの計算インメモリ推論エンジンを実現するために重要である。各状態のセルの分布を強化するために,限られた数の反復内で2段階書き込み-検証スキームを開発し,それをHfO_2 RRAMアレイに基づく試験車両で試験し,セル当たり2ビットを実現した。細胞のコンダクタンスは,各ステップのセットとリセットプロセスの10ループ内の標的範囲に集められる。さらに,RRAMセルの読取雑音を統計的に測定し,アナログディジタル変換器(ADC)分解能の上限に対するその影響を予測した。結果は,比較的高い読取電圧(例えば0.2V)の下の中間状態セルが読取ノイズに脆弱であることを示した。幸いに,カラムに沿った凝集読取雑音は,セル当たり2ビットの128×128アレイに必要な5ビットADCの出力を乱さない。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 凝集 ,  *雑音 ,  中間状態 ,  試験車 ,  分解能 ,  推論マシン ,  コンダクタンス ,  AD変換器
準シソーラス用語： *マルチレベル ,  脆弱性 ,  *ReRAM , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (9件)： マルチレベル ,  RRAM ,  推論エンジン ,  段階 ,  書込み ,  検証 ,  スキーム ,  読取 ,  雑音