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J-GLOBAL ID：202002255612312878   整理番号：20A1604045

サブミクロンイメージング質量分析用の二次中性質量分析計の開発

Development of a Secondary Neutral Mass Spectrometer for submicron Imaging mass spectrometry

著者 (8件)： KAWAI Yosuke (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TERADA Kentaro (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  HONDO Toshinobu (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  HONDO Toshinobu (MS-Cheminformatics, LLC, Inabe-gun, JPN) ,  AOKI Jun (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  ISHIHARA Morio (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TOYODA Michisato (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  NAKAMURA Ryosuke (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： JPS Conference Proceedings (Web)  (JPS Conference Proceedings (Web))
巻： 31  ページ： ROMBUNNO.011065 (WEB ONLY)  発行年： 2020年03月27日 
JST資料番号： U1201A  ISSN： 2435-3892  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ・地球外物質の同位体組成は,太陽系の起源と進化を解読するための重要な手がかりを提供。
・二次イオン化質量分析計(SIMS)によるその場での高空間分解能分析は,地球外物質中の個々の鉱物の同位体測定に広く使用。
・地球外物質のプレソーラー相の分析のために,レーザポストイオン化質量分析計に基づいて同位体イメージングシステムを開発。
・地上のSiC粒子の予備分析の結果は,同位体画像がサブミクロンの空間分解能で観測できることを示唆。
・Si同位体比は,イオン数が少ないために測定値のばらつきが大きかったが,SiC領域全体の地上値と一致。

シソーラス用語： *質量分析計 ,  計測 ,  *画像処理システム ,  炭化ケイ素 ,  同位体存在比 ,  二次イオン質量分析 ,  *太陽系
準シソーラス用語： SIMS【質量分析】 ,  イメージングシステム ,  同位体測定

分類 (2件)： 質量分析  (CC03013N) ,  太陽系一般  (DB04010T)

タイトルに関連する用語 (5件)： サブ ,  イメージング質量分析 ,  中性 ,  質量分析計 ,  開発