マイクロ波インピーダンス顕微鏡およびARPESで調べる擬一次元Bi<sub>4</sub>Br<sub>4</sub>の高次トポロジカルエッジ状態

野口亮; 小林賢; 黒田健太; 高橋敬成; JIANG Z.; XU Z.; LEE D.; 平山元昭; 越智正之; 白澤徹郎; ZHANG P.; LIN C.; BAREILLE C.; 櫻木俊輔; 國定聡; 黒川輝風; 矢治光一郎; 原沢あゆみ; KANDYBA V.; GIAMPIETRI A.; BARINOV A.; KIM T.; CACHO C.; SHIN S.; 有田亮太郎; 有田亮太郎; LAI K.; 笹川崇男; 近藤猛

文献

J-GLOBAL ID：202002257232416322 整理番号：20A0993345

マイクロ波インピーダンス顕微鏡およびARPESで調べる擬一次元Bi₄Br₄の高次トポロジカルエッジ状態

Higher-order topological edge states in quasi-one-dimensional Bi₄Br₄ probed by microwave impedance microscopy and ARPES

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資料名：
巻： 75 号： 1 ページ： ROMBUNNO.19aA42-1 発行年： 2020年03月23日
JST資料番号： S0671C ISSN： 2189-079X 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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絶縁体結晶の電子構造 , 電子分光法

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マイクロ波インピーダンス顕微鏡およびARPESで調べる擬一次元Bi4Br4の高次トポロジカルエッジ状態

マイクロ波インピーダンス顕微鏡およびARPESで調べる擬一次元Bi₄Br₄の高次トポロジカルエッジ状態