Ciappa Mauro について
ETH Zurich, Integrated Systems Laboratory, CH-8092 Zurich, Switzerland について
Pocaterra Marco について
ETH Zurich, Integrated Systems Laboratory, CH-8092 Zurich, Switzerland について
Microelectronics Reliability について
宇宙線 について
γ線 について
絶縁破壊 について
中性子照射 について
発光 について
故障率 について
セシウム について
MOSFET について
炭化ケイ素 について
コリメーション について
γ線源 について
増倍係数 について
緩和現象 について
信号発生 について
高エネルギー について
SiC MOSFET について
SEB について
SEGR について
故障率 について
減速因子 について
放射性ガンマ線源 について
Am□241 について
60Co について
Cs 137 について
トランジスタ について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
SiC について
パワーMOSFET について
破壊 について
キャリア について
特性化 について
軟ガンマ線 について
中性子照射 について
TCR について
故障率 について
相関 について