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J-GLOBAL ID:202002260530039420   整理番号:20A2238149

分極接合基板における2DEG枯渇電圧の解析的導出

Analytical evaluation of 2DEG depletion voltage in polarization junction substrate
著者 (7件):
資料名:
巻: 67th  ページ: ROMBUNNO.13p-PA9-18  発行年: 2020年02月28日 
JST資料番号: Y0054B  ISSN: 2436-7613  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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【序論】分極接合基板はGaN/AlGaN/GaNダブルヘテロ構造により二次元電子ガス(2DEG)と二次元正孔ガス(2DHG)を同一基板上に形成できることから、GaNパワーICにおいてGaN相補型回路を実現しうる基盤技術である。しかしながら、...【本文一部表示】
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分類 (2件):
分類
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13-15族化合物を含む半導体-半導体接合  ,  トランジスタ 
タイトルに関連する用語 (5件):
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