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J-GLOBAL ID：202002261342420658   整理番号：20A1394772

スパース・モデリングを用いた広域X線吸収微細構造の解析

Analysis of Extended X-ray Absorption Fine Structure by Sparse Modeling

著者 (10件)： 赤井一郎 (熊本大学パルスパワー科学研究所) ,  岩満一功 (熊本大学理学部) ,  五十嵐康彦 (東京大学新領域創成科学) ,  五十嵐康彦 (JSTさきがけ) ,  五十嵐康彦 (NIMS統合型材料開発・情報基盤) ,  岡田真人 (東京大学新領域創成科学) ,  岡田真人 (NIMS統合型材料開発・情報基盤) ,  瀬戸山寛之 (九州シンクロトロン光研究センター) ,  岡島敏浩 (九州シンクロトロン光研究センター) ,  岡島敏浩 (あいちシンクロトロン光センター)
資料名： 日本結晶学会誌  (Journal of the Crystallographic Society of Japan)
巻： 62  号： 1  ページ： 2-9(J-STAGE)  発行年： 2020年 
JST資料番号： G0232A  ISSN： 0369-4585  CODEN： NKEGAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 光電子波の単純化単一散乱近似に基づくスパースモデリングの適用により,X線吸収広域微細構造から微視的構造の情報を抽出する新しい方法を提案した。この方法は,ターゲット原子近傍に位置する原子の疎な動径分布関数を抽出でき,微細構造の仮定なしにDebye-Waller因子を推定することができる。したがって,この方法は,新しい材料に関する結晶学的研究においてかなりの能力を示すことが期待され,そして,データ駆動科学と結晶学的測定のそのような協同研究は,種々の研究分野におけるフロンティアを拡張することが強く期待されている。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *EXAFS ,  *モデリング ,  原子 ,  動径分布関数 ,  微細構造 ,  Debye-Waller因子 ,  光電子 ,  光散乱 ,  データフロー制御 ,  結晶学 ,  X線構造解析 ,  銅 ,  シンクロトロン放射 ,  *スパースモデリング ,  単一散乱 ,  データ駆動
準シソーラス用語： *X線吸収広域微細構造 ,  標的原子 ,  放射光

分類 (1件)： X線スペクトル一般  (BM08101P)

引用文献 (20件)：

• 1)T. Bayes and R. Price: Philos. Trans. R. Soc. 53, 370(1763).
• 2)R. Tibshirani: J. R. Stat. Soc. B 58, 267(1996).
• 3)K. P. Murphy: “Machine Learning: A Probabilistic Perspective”, Cambridge, MA: MIT Press(2012).
• 4)J. N. Kutz: “Data-Driven Modeling & Scientific Computation: Methods for Complex Systems & Big Data”, Oxford, U.K.: Oxford University Press(2013).
• 5)K. Nagata, S. Sugita and M. Okada: Neural Networks 28, 82(2012).

タイトルに関連する用語 (3件)： モデリング ,  広域X線吸収微細構造 ,  解析