文献

J-GLOBAL ID：202002265325656058   整理番号：20A1101042

光電子フィールドプログラマブルゲートアレイのための放射線劣化解析と回路性能改善法【JST・京大機械翻訳】

Radiation-degradation Analysis and a Circuit Performance Improvement Method for Optoelectronic Field Programmable Gate Array

著者 (2件)： Ito Hirotoshi (Shizuoka University,Graduate School of Integrated Science and Technology,3-5-1 Johoku, Hamamatsu,Shizuoka,Japan,432-8561) ,  Watanabe Minoru (Shizuoka University,Graduate School of Integrated Science and Technology,3-5-1 Johoku, Hamamatsu,Shizuoka,Japan,432-8561)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： SOCC  ページ： 306-311  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ホログラフィックメモリ,レーザアレイ,および標準CMOSプロセスプログラマブルゲートアレイVLSIから成る放射線硬化光電子フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)が既に開発されている。光電子FPGAはソフトエラー耐性を提供し,1Grad以上の全イオン化線量に耐えることができる。しかし,光電子FPGAの劣化は小さく無視できない。伝搬遅延と電力消費は全イオン化線量の増加と共に増加した。本論文は,光電子放射硬化FPGAの劣化測定結果とその性能を改善する方法を提示した。Copyright 2020 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 光電子放出 ,  *放射線 ,  電力消費 ,  放射線架橋 ,  ホログラムメモリ ,  電離放射線 ,  回路特性 ,  超LSI ,  レーザアレイ ,  ソフトエラー ,  *FPGA ,  *光電子
準シソーラス用語： CMOSプロセス ,  伝搬遅延 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 光電子 ,  フィールドプログラマブルゲートアレイ ,  放射線 ,  解析 ,  回路性能