Beijing Engineering Research Center of Radiographic Techniques and Equipment, Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
School of Nuclear Science and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Liu Shuangquan について
Beijing Engineering Research Center of Radiographic Techniques and Equipment, Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Liu Shuangquan について
School of Nuclear Science and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Li Chunmiao について
Beijing Engineering Research Center of Radiographic Techniques and Equipment, Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Li Chunmiao について
School of Nuclear Science and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Zheng Yushuang について
Beijing Engineering Research Center of Radiographic Techniques and Equipment, Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Zheng Yushuang について
School of Nuclear Science and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Wei Cunfeng について
Beijing Engineering Research Center of Radiographic Techniques and Equipment, Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Wei Cunfeng について
School of Nuclear Science and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Liu Baodong について
Beijing Engineering Research Center of Radiographic Techniques and Equipment, Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Liu Baodong について
School of Nuclear Science and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Yang Yao について
Beijing Engineering Research Center of Radiographic Techniques and Equipment, Institute of High Energy Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Yang Yao について
School of Nuclear Science and Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China について
Microelectronics Reliability について
アルゴリズム について
接着 について
セラミック について
セグメンテーション について
オペレータ について
溶接 について
鮮鋭度 について
故障検出 について
画像処理 について
はんだ について
計算機トモグラフィー について
IGBT について
参照画像 について
IGBT欠陥検出 について
深層学習 について
ボイドセグメンテーション について
X線イメージング について
コンピュータ断層撮影 について
トランジスタ について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
計算機トモグラフィー について
イメージング について
絶縁ゲートバイポーラトランジスタ について
欠陥検出 について