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J-GLOBAL ID：202002272678682087   整理番号：20A0800255

圧縮センシング技術を用いた蛍光X線イメージングの超解像解析

Super Resolution Analysis of X-ray Fluorescence Imaging Using Compressed Sensing Technique

著者 (5件)： 松山嗣史 (大阪市大 大学院工学研究科) ,  山内葵 (大阪市大 大学院工学研究科) ,  岩崎正寛 (大阪市大 大学院工学研究科) ,  林和則 (大阪市大 大学院工学研究科) ,  辻幸一 (大阪市大 大学院工学研究科)
資料名： X線分析の進歩  (X線工業分析)
巻： 51  ページ： 49-56  発行年： 2020年03月31日 
JST資料番号： Z0547B  ISSN： 0911-7806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 全視野型蛍光X線イメージング法は,試料広範囲にX線を照射し,試料から放出される蛍光X線をX線用2次元カメラで観測することで,未知試料中の元素分布像を取得する方法である。様々な分野での適応が期待される一方で,取得される元素分布像の解像度の向上が求められている。そこで,主に医療分野で注目されている圧縮センシングという情報処理技術を全視野型蛍光X線イメージングに適応することによって,高画質な元素分布像の取得を目指した。本研究では,銅とチタンからなる金属試料に本手法を適用することによって,その有用性が示された。(著者抄録)

シソーラス用語： *信号再生 ,  *信号標本化 ,  *蛍光X線分析 ,  *超解像 ,  *X線画像 ,  元素 ,  分布 ,  銅 ,  チタン ,  CCDカメラ ,  *圧縮センシング ,  元素分布

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

引用文献 (11件)：

• K. Nakano, K. Tsuji: Anal. Chem, 38, 446-450 (2009).
• T. Nakazawa, K. Tsuji: X-ray spectrum, 42, 374-379 (2013).
• 中澤 隆,中野和彦,恩地啓実,浪田真由,矢持 進, 辻 幸一:分析化学,61,637-642(2012).
• A. Matsuyada, K Nakano, S. Komatani, S. Ohzawa, H. Uchihara, K. Tsuji: X-ray spectrum, 38, 258-262 (2009).
• 山梨眞生,山内 葵,辻 幸一:BUNSEKI KAGAKU,66,901-907(2017).

タイトルに関連する用語 (5件)： 圧縮センシング ,  蛍光 ,  X線イメージング ,  超解像 ,  解析