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J-GLOBAL ID：202002277033709648   整理番号：20A1371734

超伝導ワイヤにおける微細構造の部位特異的観察のための走査型Hallプローブ顕微鏡法とそれらの性能ボトルネックの解明のためのテープ【JST・京大機械翻訳】

Scanning Hall-probe microscopy for site-specific observation of microstructure in superconducting wires and tapes for the clarification of their performance bottlenecks

著者 (11件)： Higashikawa Kohei (Department of Electrical Engineering, Graduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University, Fukuoka 819-0395, Japan) ,  Inoue Masayoshi (Department of Electrical Engineering, Faculty of Engineering, Fukuoka Institute of Technology, Fukuoka 811-0295, Japan) ,  Ye Shujun (Center for Innovative Integrated Electronic Systems, Tohoku University, Sendai 980-8572, Japan) ,  Matsumoto Akiyoshi (National Institute for Materials Science, Tsukuba 305-0047, Japan) ,  Kumakura Hiroaki (National Institute for Materials Science, Tsukuba 305-0047, Japan) ,  Yoshida Ryuji (Nanostructures Research Laboratory, Japan Fine Ceramics Center, Nagoya 456-8587, Japan) ,  Kato Takeharu (Nanostructures Research Laboratory, Japan Fine Ceramics Center, Nagoya 456-8587, Japan) ,  Machi Takato (Research Institute for Energy Conservation, Department of Energy and Environment, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tsukuba 305-8564, Japan) ,  Ibi Akira (Research Institute for Energy Conservation, Department of Energy and Environment, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tsukuba 305-8564, Japan) ,  Izumi Teruo (Research Institute for Energy Conservation, Department of Energy and Environment, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tsukuba 305-8564, Japan) ,  Kiss Takanobu (Department of Electrical Engineering, Graduate School of Information Science and Electrical Engineering, Kyushu University, Fukuoka 819-0395, Japan)
資料名： Superconductor Science and Technology  (Superconductor Science and Technology)
巻： 33  号： 6  ページ： 064005 (7pp)  発行年： 2020年 
JST資料番号： T0607A  ISSN： 0953-2048  CODEN： SUSTEF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,超伝導ワイヤとテープにおける性能ボトルネックを,それらの更なる性能強化のために,明らかにするための診断法を報告する。特に,SEM,TEM,およびX線CTによる微細構造観察のための位置選択にうまく働く,走査Hallプローブ顕微鏡(SHPM)による著者らの成果を紹介した。このハイブリッド顕微鏡は,実用規模の超伝導ワイヤまたはテープの性能とミクロスケールまたはナノスケール構造におけるその起源の間の直接関係の情報を提供する。そのような例として,MgB_2マルチフィラメントワイヤ,市販の長いRE-123被覆導体,および縞状マルチフィラメント被覆導体の特性評価結果を,著者らの過去の研究のレビューを通して報告した。Please refer to the publisher for the copyright holders. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *超伝導 ,  微細構造 ,  *金属線 ,  キャラクタリゼーション ,  X線CT
準シソーラス用語： ナノスケール ,  マルチフィラメント ,  被覆導体 ,  縞 ,  *プローブ顕微鏡 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 電線・ケーブル  (NA05020S) ,  超伝導材料  (BM04041W)

タイトルに関連する用語 (8件)： 伝導 ,  ワイヤ ,  微細構造 ,  観察 ,  走査型 ,  プローブ顕微鏡 ,  ボトルネック ,  テープ