Cheng Xiaohong について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Li Yongliang について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Wang Guilei について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Liu Haoyan について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Zan Ying について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Lin Hongxiao について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Kong Zhenzhen について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Zhong Zhaoyang について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Zhong Zhaoyang について
School of Applied Science, Beijing Information Science and Technology University, Beijing 100192, People’s Republic of China について
School of Applied Science, Beijing Information Science and Technology University, Beijing 100192, People’s Republic of China について
Wang Hanxiang について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Xu Gaobo について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Ma Xueli について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Wang Xiaolei について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Yang Hong について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Luo Jun について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Wang Wenwu について
Integrated Circuit Advanced Process Center, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Science, Beijing 100029, People’s Republic of China について
Semiconductor Science and Technology について
界面 について
ケイ素 について
ゲルマニウム について
MOSFET について
熱安定性 について
多層 について
RTA【熱処理】 について
温度範囲 について
アニーリング温度 について
結晶品質 について
SiGe合金 について
ゲートオールアラウンド について
金属-絶縁体-半導体構造 について
トランジスタ について
ゲートオールアラウンド について
MOSFET について
Si について
多層 について
熱安定性 について
研究 について