特許

J-GLOBAL ID：202003003581886023

回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法

発明者： 大竹 哲史 ,  平本 悠翔郎
出願人/特許権者： 国立大学法人 大分大学
代理人 (4件)： 青木 篤 ,  三橋 真二 ,  南山 知広 ,  伊坪 公一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2019-027786
公開番号（公開出願番号）：特開2020-134303
出願日： 2019年02月19日
公開日（公表日）： 2020年08月31日
要約：

【課題】メモリ容量に制限されることなく高精度の診断テストを実施することが可能な回路診断テスト装置、及び回路診断テスト方法を提供する。【解決手段】回路診断テスト装置は、テストパターンが設定された診断対象回路の複数のスキャンFFに出力されるクロック信号の周期を設定するクロック周期設定部と、クロック周期設定部により所定の第1周期に設定されたクロック信号が出力されたときに複数のスキャンFFから出力される応答パターンに基づいて生成された応答シグネチャと、クロック周期設定部により第1周期よりも長い第2周期に設定されたクロック信号が出力されたときに複数のスキャンFFから出力される応答パターンに基づいて生成された期待シグネチャと、を比較する診断テスト部と、を備える。【選択図】図8

請求項（抜粋）：

テストパターンが設定された診断対象回路の複数のスキャンFFに出力されるクロック信号の周期を設定するクロック周期設定部と、 前記クロック周期設定部により所定の第1周期に設定された前記クロック信号が出力されたときに前記複数のスキャンFFから出力される応答パターンに基づいて生成された応答シグネチャと、前記クロック周期設定部により前記第1周期よりも長い第2周期に設定された前記クロック信号が出力されたときに前記複数のスキャンFFから出力される応答パターンに基づいて生成された期待シグネチャと、を比較する診断テスト部と、 を備えることを特徴とする回路診断テスト装置。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  H01L 21/822 ,  H01L 27/04

FI (3件)：

G01R31/28 G ,  G01R31/28 V ,  H01L27/04 T

Fターム (22件)：

2G132AA01 ,  2G132AB01 ,  2G132AC05 ,  2G132AC14 ,  2G132AD06 ,  2G132AE23 ,  2G132AG01 ,  2G132AH00 ,  2G132AK14 ,  2G132AL12 ,  5F038DF04 ,  5F038DF05 ,  5F038DT02 ,  5F038DT03 ,  5F038DT06 ,  5F038DT07 ,  5F038DT08 ,  5F038DT12 ,  5F038DT16 ,  5F038DT17 ,  5F038DT19 ,  5F038EZ20

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 集積回路のタイミング不良改善装置、並びに、集積回路のタイミング不良診断装置および方法、並びに、集積回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-295943   出願人：富士通株式会社