特許
J-GLOBAL ID：202003005284662682
データ処理装置、データ処理プログラム、基板群類否判定方法、基板群評価システムおよび基板群評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
阿仁屋 節雄
, 奥山 知洋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2019-095358
公開番号（公開出願番号）：特開2020-190881
出願日： 2019年05月21日
公開日（公表日）： 2020年11月26日
要約：
【課題】廃電子基板の集合体について、その集合体の画像データと過去データを構成する画像データとの類否判定を行うことで、廃電子基板のリサイクルビジネスの成立に寄与する技術を提供する。【解決手段】廃電子基板の集合体の画像データを取得するデータ取得部61と、前記画像データの色情報に関する特徴量を第1特徴量として抽出する第1特徴量抽出部62と、前記画像データの基板分布の変動係数に関する特徴量を第2特徴量として抽出する第2特徴量抽出部63と、前記データ取得部61で取得する一つの画像データと他の画像データとについて、少なくとも前記第1特徴量および前記第2特徴量を指標に用いて、類否判定を行う類否判定部65と、を備えたデータ処理装置6を構成する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
廃電子基板の集合体の画像データを取得するデータ取得部と、
前記画像データの色情報に関する特徴量を第1特徴量として抽出する第1特徴量抽出部と、
前記画像データの基板分布の変動係数に関する特徴量を第2特徴量として抽出する第2特徴量抽出部と、
前記データ取得部で取得する一つの画像データと他の画像データとについて、少なくとも前記第1特徴量および前記第2特徴量を指標に用いて、類否判定を行う類否判定部と、
を備えるデータ処理装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F16/483
, G06Q10/00 400
