特許

J-GLOBAL ID：200903073811217070

画像解析プログラム、画像解析装置、および画像解析方法

発明者： 馬場 孝之 ,  遠藤 進 ,  椎谷 秀一 ,  上原 祐介 ,  増本 大器 ,  長田 茂美
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 横山 淳一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-333712
公開番号（公開出願番号）：特開2009-157555
出願日： 2007年12月26日
公開日（公表日）： 2009年07月16日
要約：

【課題】画像情報の部分領域と画像情報に対応付けられた関連情報との間の相関を求める画像解析プログラム、画像解析装置、および画像解析方法の提供である。【解決手段】関連情報が関連付けられた複数の画像情報の解析をする画像解析装置に実行させる画像解析プログラムであって、該画像解析装置に、該画像情報の一部に部分領域を定めるステップ、複数の該部分領域内の画素を構成する情報から定まる情報および該関連情報から相関係数を求めるステップを実行させる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

画像に表示される対象物の特徴を示す関連情報が関連付けられた複数の画像情報の解析をする画像解析装置に実行させる画像解析プログラムであって、 該画像解析装置に、 複数の画像情報の一部に部分領域を定めるステップ、 複数の該部分領域内の画素を構成する情報から定まる情報および各画像情報に関連する関連情報から、前記画像情報と前記関連情報との相関係数を求めるステップ を実行させることを特徴とする画像解析プログラム。

IPC (2件)：

G06Q 50/00 ,  G06F 17/30

FI (4件)：

G06F17/60 130 ,  G06F17/30 170B ,  G06F17/30 350C ,  G06F17/30 220Z

Fターム (3件)：

5B075ND06 ,  5B075NS10 ,  5B075QM05

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 時系列データ検索方法及び装置及び時系列データ検索プログラムを格納した記憶媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-114161   出願人：日本電信電話株式会社

審査官引用 (4件)

• 不良検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-306748   出願人：株式会社東芝
• 製造プロセスの操業結果解析装置、操業結果解析方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-198436   出願人：新日本製鐵株式会社
• 特性分布の特徴量抽出方法および特性分布の分類方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-070741   出願人：シャープ株式会社
• 半導体装置の製造方法並びに欠陥検査データ処理方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-287779   出願人：株式会社日立製作所