特許
J-GLOBAL ID：202003008721427654

計測装置、計測方法、プログラム

発明者：
磯部 裕史

磯部 裕史 について

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椛澤 秀年

椛澤 秀年 について

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氏家 一朗

氏家 一朗 について

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増野 智経

増野 智経 について


出願人/特許権者：
ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社

ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 について


代理人 (2件)： 岩田 雅信 ,  中川 裕人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-193178
公開番号（公開出願番号）：特開2020-060505
出願日： 2018年10月12日
公開日（公表日）： 2020年04月16日
要約：
【課題】例えばブドウの摘粒作業を効率よく行うことを可能とする計測装置および計測方法を提供する。【解決手段】計測装置又は計測方法として、把持体によるブドウの房の把持の検出に基づいて計測対象となるブドウの房を特定する処理と、特定されたブドウの房の粒数の計測を開始する処理と、を情報処理装置が行うようにする。【選択図】図9
請求項（抜粋）：
把持体による物体の把持の検出に基づいて計測対象物を特定する処理を行う計測対象特定部と、 前記計測対象特定部が特定した計測対象物の特徴量の計測処理による計測結果を得る計測部と、を備えた 計測装置。
IPC (2件)：
G01N 21/27 ,  G06T 7/00
FI (2件)：
G01N21/27 A ,  G06T7/00 Z
Fターム (16件)：
2G059BB11 ,  2G059CC09 ,  2G059CC20 ,  2G059EE12 ,  2G059EE13 ,  2G059FF01 ,  2G059HH01 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04 ,  2G059PP06 ,  5L096AA06 ,  5L096BA05 ,  5L096DA05 ,  5L096JA11
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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