特許
J-GLOBAL ID:202003011993440510

センサを備えた装置、及びターゲット測定を実行する方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 稲葉 良幸 ,  大貫 敏史 ,  江口 昭彦 ,  内藤 和彦
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-515793
特許番号:特許第6737879号
出願日: 2016年09月30日
請求項(抜粋):
【請求項1】 ターゲットを測定する方法であって、 前記ターゲットと測定装置の測定スポットとの間で第1の方向に第1の相対的な移動を実行することと、 前記第1の相対的な移動の後、少なくとも部分的に前記測定スポットが前記ターゲット上にある間に又は前記測定スポットを前記ターゲット上に位置付けるため、前記測定スポットと前記ターゲットとの間で第2の方向に第2の相対的な移動を実行することと、 前記第2の相対的な移動の間に又は後に、前記ターゲット上の前記測定スポットを用いて前記ターゲットの第1の測定を実行することと、 前記第1の測定の後、前記ターゲットと前記測定スポットとの間で前記第1の方向とは本質的に反対の方向に第3の相対的な移動を実行することと、 前記第3の相対的な移動の後、少なくとも部分的に前記測定スポットが前記ターゲット上にある間に又は前記測定スポットを前記ターゲット上に位置付けるため、前記測定スポットと前記ターゲットとの間で前記第2の方向に第4の相対的な移動を実行することと、 前記第4の相対的な移動の間に又は後に、前記ターゲット上の前記測定スポットを用いて前記ターゲットの第2の測定を実行することと、 前記第1及び第2の測定を平均することと、 を含み、 前記平均によって前記ターゲット又はパターニングプロセスのパラメータが決定される、方法。
IPC (3件):
G03F 9/00 ( 200 6.01) ,  G03F 7/20 ( 200 6.01) ,  G01B 11/00 ( 200 6.01)
FI (3件):
G03F 9/00 ,  G03F 7/20 501 ,  G01B 11/00 G
引用特許:
審査官引用 (6件)
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