特許
J-GLOBAL ID：202003014193238887

粒子測定方法、粒子測定装置及び核酸濃度測定システム

発明者：
佐々木 亨

佐々木 亨 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (4件)： 岡部 讓 ,  越智 隆夫 ,  吉澤 弘司 ,  齋藤 正巳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-125435
公開番号（公開出願番号）：特開2020-003429
出願日： 2018年06月29日
公開日（公表日）： 2020年01月09日
要約：
【課題】解像度の低い画像や輪郭が不明確な画像から微小な粒子の輪郭情報を得て、粒子の大きさを測定することができる粒子測定方法を提供する。【解決手段】複数の粒子の像を含む画像データから、当該画像に含まれる粒子の大きさを測定する方法であって、画像データから複数の粒子の個々の位置を取得する粒子位置取得工程と、隣接する二つの粒子を抽出する隣接粒子抽出工程と、粒子と隣接関係にある粒子との間の距離から、粒子の個々の大きさを求める算出工程と、を含む。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
複数の粒子の像を含む画像データから、前記複数の粒子の大きさを測定する粒子測定方法であって、 前記画像データから前記複数の粒子の個々の位置を取得する粒子位置取得工程と、 前記画像データにおいて、互いに隣接する複数の粒子を抽出する隣接粒子抽出工程と、 前記隣接粒子抽出工程にて抽出された、前記互いに隣接する複数の粒子間の距離に基づいて、前記複数の粒子の個々の大きさを求める算出工程と、 を含むことを特徴とする粒子測定方法。
IPC (3件)：
G01B 11/08 ,  C12M 1/00 ,  C12M 1/34
FI (3件)：
G01B11/08 H ,  C12M1/00 A ,  C12M1/34 Z
Fターム (47件)：
2F065AA03 ,  2F065AA07 ,  2F065AA17 ,  2F065AA26 ,  2F065AA58 ,  2F065AA59 ,  2F065BB07 ,  2F065BB29 ,  2F065CC16 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065GG04 ,  2F065HH04 ,  2F065HH13 ,  2F065HH15 ,  2F065HH17 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065LL20 ,  2F065MM02 ,  2F065PP24 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ41 ,  2F065UU05 ,  4B029AA07 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029CC01 ,  4B029FA09 ,  4B029FA12 ,  4B063QA01 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ52 ,  4B063QR08 ,  4B063QR32 ,  4B063QR35 ,  4B063QR55 ,  4B063QR62 ,  4B063QS25 ,  4B063QX01
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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