特許
J-GLOBAL ID：202003016082884405
放射線検出装置、放射線画像取得装置、及び放射線画像の取得方法。
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
長谷川 芳樹
, 黒木 義樹
, 柴山 健一
, ▲高▼木 邦夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-229359
公開番号（公開出願番号）：特開2018-084556
特許番号：特許第6747948号
出願日： 2016年11月25日
公開日（公表日）： 2018年05月31日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 搬送方向に搬送される対象物を透過した放射線を検出する放射線検出装置であって、
前記対象物を透過した放射線のうち低エネルギ範囲の放射線を第1のシンチレーション光に変換する第1のシンチレータと、
前記搬送方向と交差する検出方向に沿って配列される複数の第1の画素を有し、前記第1の画素により前記第1のシンチレーション光を検出して第1の画像データを出力する第1のラインセンサと、
前記対象物を透過した放射線のうち前記低エネルギ範囲よりも高い高エネルギ範囲の放射線を第2のシンチレーション光に変換する第2のシンチレータと、
前記搬送方向と交差する検出方向に沿って配列される複数の第2の画素を有し、前記第2の画素により前記第2のシンチレーション光を検出して第2の画像データを出力する第2のラインセンサと、を備え、
前記第1のラインセンサの前記第1の画素と前記第2のラインセンサの前記第2の画素とは互いに同じ画素数であり且つ同じ画素ピッチで配列されており、
前記第1のラインセンサから出力される前記第1の画像データに対してはミニマムフィルタ処理を含む第1の間引き処理が行われ、前記第2のラインセンサから出力される前記第2の画像データに対しては平均化処理又は加算処理を含む第2の間引き処理が行われる、放射線検出装置。
IPC (2件)：
G01N 23/04 ( 201 8.01)
, G01N 23/18 ( 201 8.01)
出願人引用 (8件)
全件表示
審査官引用 (8件)
全件表示
前のページに戻る
