特許
J-GLOBAL ID：200903004816573905

放射線異物検査装置および放射線異物検査方法

発明者：
株本 隆司

株本 隆司 について


出願人/特許権者：
株式会社イシダ

株式会社イシダ について


代理人 (3件)： 小野 由己男 ,  加藤 秀忠 ,  山下 託嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-410502
公開番号（公開出願番号）：特開2005-172510
出願日： 2003年12月09日
公開日（公表日）： 2005年06月30日
要約：
【課題】 誤検出の発生を防止して、被検査物の中に混入した異物の検出を正確に行うことができる放射線異物検査装置および放射線異物検査方法を提供する。【解決手段】 制御用コンピュータ20が、2値化処理された後の画像(第1の画像)において、異物として検出された全ての画素を注目画素31として、関心領域32に含まれる異物として検出された画素の密集度を算出している。この密集度に基づいて、所定のしきい値以下の密集度の画素を誤検出として第1の画像から消去し、最終的に異物として検出された画素を決定し、第2の画像を形成している。【選択図】 図7
請求項（抜粋）：
被検査物に対して放射線を照射する放射線照射部と、 前記被検査物を挟んで前記放射線照射部と対向配置されており、前記被検査物を透過した放射線を検出する放射線検出部と、 前記放射線検出部において検出された放射線の検出信号に基づいて第1の画像を形成する画像形成部と、 前記第1の画像から抽出された所定濃度範囲の画素の密集度に基づいて前記第1の画像に対して画像処理を行って第2の画像を形成する画像処理部と、 を備えている、 放射線異物検査装置。
IPC (2件)：
G01N23/04 ,  G06T1/00
FI (2件)：
G01N23/04 ,  G06T1/00 300
Fターム (30件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001FA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001KA03 ,  2G001LA01 ,  2G001PA01 ,  2G001PA11 ,  5B057AA02 ,  5B057BA03 ,  5B057BA30 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB06 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CE12 ,  5B057DA03 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB08 ,  5B057DC05 ,  5B057DC23
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 放射線検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-118629   出願人：株式会社島津製作所
審査官引用 (10件)
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