特許
J-GLOBAL ID：202003017647991312
異常診断方法、異常診断装置、及び異常診断プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
長谷川 芳樹
, 黒木 義樹
, 安田 亮輔
, 梅景 篤
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-084511
公開番号（公開出願番号）：特開2017-194341
特許番号：特許第6658250号
出願日： 2016年04月20日
公開日（公表日）： 2017年10月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 診断対象システムに関する複数の計測項目のデータに基づいて前記診断対象システムの異常を診断する異常診断方法であって、
前記診断対象システムが正常に稼働している時間帯における複数の第1計測時点において取得された前記計測項目のデータである正常稼働データに基づいて、目的変数が前記計測項目のうちの一の診断項目であり、説明変数が他の前記計測項目である回帰式の回帰係数の確率分布を表す値を算出する第1ステップと、
前記回帰式、前記第1ステップで算出した前記回帰係数の確率分布を表す値、及び診断の対象となる時間帯における第2計測時点において取得された前記計測項目のデータである診断対象データに基づいて、前記第2計測時点における前記診断項目の予測値の確率分布を表す値を算出する第2ステップと、
前記診断対象データ及び前記第2ステップで算出した前記診断項目の予測値の確率分布を表す値に基づいて前記第2計測時点における前記診断項目の異常度である第1異常度を算出し、前記第1異常度に基づいて前記診断項目の異常判定を行う第3ステップと、を含み、
前記第3ステップでは、前記第2計測時点について、前記診断項目の計測値と前記診断項目の予測値の確率分布における平均値との差分を当該確率分布の標準偏差で除した値を前記第1異常度として算出する、異常診断方法。
IPC (2件)：
G01M 99/00 ( 201 1.01)
, G05B 23/02 ( 200 6.01)
G01M 99/00 Z
, G05B 23/02 302 S
